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溫度特性測試機

發布者:盈和科技  發布時間:2018-11-18  查看:次  【

溫度特性測試機可在測試盤上進行石英晶體振蕩器、諧振器、TCXO或其他需要溫度特性測試的電子元器件的溫度特性檢測。

特征:

       采用電子冷卻及加熱方式,可高速高精度地進行溫度控制;

       采用前后兩個溫調測試臺方式,有效地提高裝置的循環時間;

       裝置內為常溫環境,不易引起由于冷卻及加熱導致的測試板及測試針的老化;

       只需更換測試盤或測試頭即可對應不同機種,可大幅度削減對應新機種所需的費用及時間。多用型設計,可以晶體振蕩器、諧振器、TCXO進行檢查,對TCXO還可以進行數據寫入。(測定系統多種多樣,可任意選擇)
 

性能參數

外形尺寸

1050*800*1450(顯示器、報警燈除外)

裝置型號

WSZ005

使用電源

單相  AC200V  50/60Hz  30A

機內氣體

為防止結霜注入氮氣或干燥空氣(通過干燥空氣發生器)

測試溫度范圍

-40℃ — 120℃ (上下限溫度可根據用戶要求擴大)

溫度設定間隔

0.1℃

溫度均勻性

≦0.3℃

溫度波動性

±0.1℃

降溫時間

3.5分(25℃ —-35℃)

升溫時間

1.5分(25℃ —85℃)

工作對象

IC、石英晶體元器件、半導體元器件等

對象尺寸

7.0mm*5.0mm —2.5mm*2.0mm

對象供給

提藍供給測試托盤(10段*2)

對象收納

提籃收納測試托盤(10段*2)

測量儀器

晶體諧振器  網絡分析卡S&A 250B或網絡分析儀HP E5100E5100

晶體振蕩器  頻率計HP53131A 等

測試頻率范圍

晶體諧振器  1MHz—200MHz

晶體振蕩器  5MHz—200MHz

測試精度

1ppm

測試參數

晶體諧振器   F、R、CO、CI、Q等

晶體振蕩器   F、mA、Vcc、Vc等

循環時間

3.3秒/個(8溫度點測試的場合)



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